В РКС предлагают контролировать микросхемы рентегеном
В обоснование своей идеи об эффективности и необходимости ренгеновского контроля, представители холдинга Роскосмос ссылаются на то, что обследовали таким образом более 60 тысяч изделий и в 3% из них выявили различные несоответствия предъявляемым требованиям. По итогам тестов была сформирована методика, которую намерены использовать в РКС после ее согласования в Минпромторге.
Микросхемы, которые разрабатываются с прицелом на радиационную стойкость, сейчас испытывают различными способами. Испытания с помощью рентгена – далеко не единственный и вряд ли самый достовереный способ. Например, в Элвис такие изделия испытывают с помощью изохронного циклотрона У-400М в ОИЯИ. Проверется устойчивость изделий к воздействию различных тяжелых заряженных частиц, например, ионами Kr, Xe, Ar, Ne при нормальной температуре корпуса, а также некоторыми ионами при повышенной температуре. Заменить такие испытания рентгеном вряд ли возможно.
Следить за новостями в области микроэлектроники и полупроводников удобно в телеграм-канале RUSmicro.
Рубрика: Личные блоги. Метки: микроэлектроника, полупроводники.